会影响老化房测试的因素 下

来源：林频仪器 时间：2018-12-07 11:11

“活到老不如学到老”这句话每个人都是知道吧!所以今日继续介绍会影响老化房测试的因素，下面让我们一起来学习这些知识吧!

5、计算机接口与数据采集方式，有些老化测试系统采用分区方法：一个数据采集主机控制多个老化板，另外有些系统则是单板式采集。从实际情况来看单板式方法可以采集到更多数据，并且还具有更大的测试产量。

6、首先是老化房测试方法的选择，而理想的情况是器件在老化工艺上花费的时间最少来到达提高总体产量，则会让恶劣的电性能条件会助于故障加速，从而能快速反复进行系统测试，这样可以大基地啊减少总体老化时间。每单位时间里内部节点切换次数越多，其器件受到的考验就越大，故障也就出现得更快。

7、老化房老化板互连性、PCB设计以及偏置电路的复杂性，其化测试系统可能被有些人称为高速测试，但如果机械连接或者是老化板本身特性会削弱信号质量，那么测试速度将会是一个问题。如像过多机电性连接会增大整个系统的总电容和电感，老化板设计不良则会产生噪声与串扰，而很差的引脚驱动器设计则会使快速信号沿所需的驱动电流大小受到限制等等，这些都仅是一部分影响速度的瓶颈，另外由于负载过大并存在阻抗、电路偏置以及保护元件值的选择等也会使老化的性能受到影响。

对于正在使用老化房的用户来说这些知识正是当下所需要的好，所以我们更应该要了解。